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Indices de Performance du Processus

Lorsque nous surveillons un processus par une carte de contrôle qualité (comme une carte X-barre et une carte R ; voir le module Cartes de Contrôle Qualité) il est souvent utile de calculer les indices de capabilité process. Plus précisément, lorsque les données sont constituées de multiples échantillons, comme données collectées pour les cartes de contrôle qualité, il est possible de calculer deux indices de variabilité des données. Le premier est l'écart-type standard de toutes les observations, sans prendre en compte l'existence de plusieurs échantillons  ; l'autre revient à estimer la variation inhérente au processus à partir de la variabilité intra-échantillon. Par exemple, lorsque nous traçons des cartes X-barre et R, nous pouvons utiliser l'estimateur commun R-barre/d2 pour le sigma du processus (voir Duncan, 1974 ; Montgomery, 1985, 1991). Notez toutefois que cet estimateur n'est correct que si le processus est statistiquement stable. Pour une présentation détaillée de la différence entre la variation totale du processus et la variation inhérente, veuillez vous reporter au manuel de référence de l'ASQC/AIAG (ASQC/AIAG, 1991, page 80).

Lorsque la dispersion totale du processus est utilisée dans les calculs de capabilité standard, les indices obtenus sont souvent appelés indices de performance du processus (puisqu'ils décrivent la véritable performance du processus ; les indices les plus courants sont Pp, Pr et Ppk), tandis que les indices calculés à partir de la dispersion inhérente (sigma intra-échantillon) sont appelés indices de capabilité (puisqu'ils décrivent la capabilité inhérente du processus ; les indices les plus courants sont Cp, Cr et Cpk).

Pour plus d'informations, voir aussi la rubrique Indices de Capabilité Process.