Formation ACP et PLS Multidimensionnelles (MSPC)
Programme
Introduction MSPC- Les cartes de contrôle univariées
- Contrôle Statistique Multivarié de Process
- Statistique du T2 de Hotelling
- T² & SPE
- Approches diagnostiques pour la méthode du T² de Hotelling
- Diagnostic T2 par l'Analyse en Composantes Principales (ACP)
Analyse en Composantes Principales
- Objectif et Description de la méthode
- Validation croisée pour le modèle ACP
- Etude de Cas
- Diagnostics MSPC
- Combien de composantes nécessaire ?
- Autres propriétés de l'ACP
- Stratégies statistiques de Test
Partial Least Square (PLS)
- Objectif de la méthode
- Rappel du problème de Régression
- Régression sur Composantes Principales
- Régression PLS
- Une ou plusieurs variables de réponse ?
- Validation croisée pour le modèle PLS
Batch SPC
- Introduction et Motivation
- La forme tridimensionnelle des process par batch
- Tracés de Contribution
- Modèle basé sur les observations de lots (BMPLS)
- Classification des lots de l'ensemble de test sur le modèle BMPLS
- Modèle basé sur les lots (TMPCA)
- Classification des lots de l'ensemble de test sur le modèle TMPCA
Exemples

Pré-requis
Objectifs :
Présenter à l'utilisateur les outils statistiques pour la maîtrise statistique multivariée d'un processus de production par des applications concrètes. Les analyses statistiques et graphiques des différentes techniques sont effectuées avec STATISTICA.
Public concerné :
Utilisateur de STATISTICA
Pré-requis :
Connaissance élémentaire de Windows (gestion des fichiers, répertoires)
Notions élémentaires de Statistiques
Durée :
1 jour, soit 6 heures
Organisation :
6 stagiaires maximum
1 personne par ordinateur
projecteur multimédia
Formation connexe :
Contrôle Qualité
Inscription
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complémentaire, merci de prendre contact avec notre Département
Formations par email ou par téléphone au 01 45 185 999.
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