Séminaires de Formation sur Statistica

Formations Inter-Entreprises

Dell Software organise régulièrement différents séminaires de formation inter-entreprises dans ses locaux à Paris La Défense.

Ces séminaires traitent à la fois de l'utilisation de Statistica et des domaines statistiques correspondants, l'objectif étant de permettre la résolution de problèmatiques statistiques grâce aux nombreux outils disponibles dans Statistica

Cette formule est la plus économique lorsque vous souhaitez former jusqu'à trois personnes sur des aspects spécifiques du programme Statistica.

N'hésitez pas à nous contacter pour plus d'informations...

Séminaires de Formation Proposés :

Initiation à Statistica
Mise à Niveau en Statistiques
ANOVA & Régression
Techniques Exploratoires Multivariées
Séries Chronologiques
Plans d'Expériences
Contrôle Qualité et MSP
MSP Multidimensionnelle (ACP et PLS)
Réseaux de Neurones
Prise en main de STATISTICA Data Miner
Méthodologie en Data Mining
Formations Six Sigma : Sensibilisation au Lean Six Sigma, Formations Green Belt, Black Belt, ...
Initiation à STATISTICA Entreprise
Initiation à STATISTICA Entreprise/QC (version dédiée au contrôle qualité)

Prochaines dates : voir le calendrier des formations.
Horaires : de 9 heures 30 à 17 heures
Lieu : Dans les locaux de Dell Software ou dans les locaux de notre partenaire LINCOLN à Boulogne-Billancourt

Pour plus d'informations sur le coût de ces formations, les inscriptions, ou tout renseignement complémentaire, merci de prendre contact avec notre Département Formations.

Séminaires de Méthodologie

Nous organisons régulièrement des ateliers de méthodologie au cours desquels les rappels théoriques alternent avec des exercices pratiques de "mains sur le clavier".

Outre le fait d'aborder les problématiques sous un angle nouveau, et afin d'évaluer l'intérêt d'acquérir un logiciel de traitement spécialisé, ces ateliers constituent généralement un lieu d'échange informel où des personnes avec des problématiques similaires, ou intervenant dans des domaines d'activité proches, ont la possibilité de discuter entre eux et avec un expert du bien-fondé de certaines techniques dans leur activité spécifique.

Dates	Séminaires	Informations
Lundi 13 et Mardi 14 Juin 2016 (+ Mercredi 14 Juin 2016 en option) (Inscription avant le 20 Mai 2016)	Méthodologie en Data Mining
Nous consulter	Lean Six Sigma : Journée de Sensibilisation à la Méthodologie Six Sigma

Formation Intra-Entreprise, sur Site et 'à la Carte'

Nous organisons des formations personnalisées, dans nos locaux ou sur votre site, à partir de 3 participants. Pour les formations 'à la carte', le programme de la formation est adapté, en étroite collaboration avec les futurs participants, afin de répondre à leur problématique spécifique, en utilisant des exemples concrets et des cas pratiques auxquels ils sont confrontés quotidiennement dans leur travail. Nous définissons avec vous le bon équilibre entre rappels théoriques et utilisation pratique du logiciel, et élaborons le programme en fonction des connaissances et des besoins spécifiques des utilisateurs.

Plus d'informations sur les formations 'à la carte', merci de prendre contact avec le Département Formations de Dell Software.

  Voir aussi le Programme et Calendrier des Formations en Suisse

Calendrier des Formations 2017

Janvier 2017	18 & 19	Initiation à Statistica
Février 2017	12 & 13	Mise à Niveau en Statistiques
	16 & 17	Techniques Exploratoires Multivariées
Mars 2017	3	Initiation à Statistica Entreprise
	16 & 17	Initiation à Statistica
	20	Plans d‘Expériences
	30 & 31	ANOVA & Régression
Avril 2017	5	Initiation à Statistica Data Miner
Mai 2017	18 & 19	Mise à Niveau en Statistiques
	22 & 23	Techniques Exploratoires Multivariées
	29	Contrôle Qualité
Juin 2017	9	Initiation à Statistica Entreprise
	15 & 16	Initiation à Statistica
	26 & 27	ANOVA & Régression
Juillet 2017	13	Plans d‘Expériences

Pour plus d'informations sur le coût de ces formations, les inscriptions, ou tout renseignement complémentaire, merci de prendre contact avec notre Département Formations.